OBLF火花光譜儀VeOS

VeOS 是一款配備基于半導體檢測器系統的火花光譜儀，其分析性能（包括實驗室光譜儀所需的光譜分辨率）與已建立的基于光電倍增管的系統一樣好。這種全新的光電探測器技術專為火花發射光譜而開發，可確保在 130 至 800 nm 的整個所需波長范圍內獲得準確的結果。 光敏探測器的設計特點是其表面的光敏度是傳統系統中探測器的 100 倍，專門針對發射光譜的要求進行了調整。因此，這是一款提供光譜靈敏度和光譜分辨率的組合以及創新設計的設備，既保證了 OBLF 的眾所周知的質量，又保證了大的使用靈活性。

• 完整而靈活地包含所有分析任務
• 易于擴展的功能
• 新的、專門開發的檢測器技術
• 在檢出限、準確度、穩定性方面表現良好
• 堅固耐用的設計，適用于重載環境
• 全面的多矩陣應用選項，沒有任何限制
• 關于選擇分析元素
• 準確檢測 N 和痕量碳 (ULC)

• 光學系統：

Paschen-Runge 陣容

溫度穩定在 +5°C

分辨率 7 pm/Pixel（50 pm/Pixel 堿性光學）

波長范圍 130 - 680/780 nm

三種固態探測器

優化 OES 的像素區域

由于背面照明，對短波長的靈敏度高

• 電子

每個像素的 16 位 AD 轉換

DSP 處理器控制的傳感器讀數

連接光譜儀 PC 的 USB 接口

• 電源供應：

230V; 50/60 Hz; 1,5 kVA

待機模式下 300 W

• 環境條件

工作溫度：10 – 40 ºC

尺寸和重量

寬度：74 cm

高度：134 cm

深度：115 cm

重量：約 300 kg